19035安規(guī)掃描測試儀

詳細介紹

Chroma 19035擁有5kVac/6kVdc高壓輸出，符合繞線組件之耐壓測試需求，輸出電流可達30mA。IR絕緣電阻測試可量測范圍為1MΩ到50GΩ，電壓輸出可達5kV。DCR直流電阻量測除了可量測繞線組件之基本規(guī)格，也可做為安規(guī) 耐壓測試之前連接(接觸)檢查。 其具有Flashover、OSC (開短路偵測) 等強大附加功能，以及可程序電壓值、時間參數(shù)等，針對不同的待測物特性，防止不良品輕易通過質(zhì)量驗證，提升測試本身的信賴度及產(chǎn)品質(zhì)量。 為針對馬達、變壓器、加熱器等相關繞線組件測試需求，所設計的綜合安規(guī)測試器。大多數(shù)繞線組件具有多組繞組，如三相馬達、雙繞組變壓器等，利用19035八信道掃描，無需手動切換測試點，達成多點一次測試完成，節(jié)省測試時間及人力成本。 還可提供OSC及DCR功能，檢驗測試過程中是否接觸不良或有待測物短路的現(xiàn)象，解決馬達、 變壓器等繞線組件測試時所發(fā)生的接觸問題，提升測試質(zhì)量及延長測試設備的壽命

主要特點 

■支持16信道掃描測試 

■高速接觸檢查 (HSCC) 

■次測項功能 

■OSC開短路偵測 

■GFI人體保護電路 

■Flashover 偵測 

■面板鎖定功能 

■標準RS232接口 

■可選購GPIB&HANDLER接口 

■CE認證 主要功能 

■5kVac & 6kVdc 耐壓測試 

■1MΩ~50GΩ /5kV 絕緣阻抗測試 

■10mΩ~500kΩ 直流電阻測試 

■8信道掃描輸出

開短路偵測

OSC功能為偵測測試過程中是否有開路(接觸不良)或短路(待測物短路)的情形發(fā)生。測試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象，會導致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對治具設備的傷害，節(jié)省測試成本。 一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間。一旦發(fā)生連接斷路則會在斷路界面形成微小電容量(Cc)，一般低于10pF， 而呈現(xiàn)整體電容量遠低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象，而當待測物短路或接近短路時時則會呈現(xiàn)電容量遠高于正?，F(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判斷接線是否良好。

次測項功能 - 繞線組件多顆測試

生產(chǎn)廠商為了提升耐壓測試效率，常以并聯(lián)測試做為解決方法。但并聯(lián)測試時，無法正確設定電流上下限值，導致不良品流出或良品判為不良品，以及不良時需至后測站進行測試，增加站數(shù)及成本。 為解決并聯(lián)測試的困擾，19035提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時，才會進行次測項測試 (單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物。此功能的導入，將大幅提升產(chǎn)線的耐壓測試效率。 

范例: 

STEP 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7 Sub 

step A: AC Hipot / pin1 to pin5 Sub 

step B: AC Hipot / pin1 to pin6 Sub 

step C: AC Hipot / pin1 to pin

40信道掃描測試

19035安規(guī)掃描測試儀每個選配件A190359掃描儀提供16個測試信道，每個信道都可設定為H(高壓輸出)、L(參考點)或是Off(不設定)。19035與A190359的組合可讓繞線組件測試更有效率。19035配合兩臺A190359， 測試通道更可達40組，對于多腳或多顆待測物可以一次完成接觸檢查及測試。

19035測試器與2臺16CH高壓掃描冶具A190359的接線方式